"Sistemas antifalsificación y marcadores aplicados a los productos plásticos"
II Jornadas sobre el Modelo de Utilidad organizadas por la OEPM
el jueves, 26 de mayo de 2016 de 11:00 a 13:00
Dónde:
Sede OEPM
Sala Julio Delicado
Paseo de la Castellana, 75
28046, Madrid
Contacto:
902 15 75 30
[email protected]
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La Oficina Española de Patentes y Marcas (OEPM), organiza estas segundas jornadas sobre el Modelo de Utilidad bajo el título: “Sistemas antifalsificación y marcadores aplicados a los productos plásticos”, que se centrarán principalmente en las novedades que entrarán en vigor el próximo año sobre la Ley 24/2015 de Patentes.
La jornada contará con las intervenciones del personal de la OEPM, representantes de empresas y agentes de la propiedad industrial.
Programa:
- 11:00h Inauguración.
María José de Concepción, Subdirectora del Departamento de Patentes e Información Tecnológica.
- 11:15h El Modelo de Utilidad en la Ley 24/2015.
Gerardo Penas, Jefe del Área de Examen de Modelos, Diseños y Semiconductores de la OEPM.
- 11:30h Procedimiento de concesión.
Elena García, Técnico Modelos de Utilidad.
- 11:45h Mesa Redonda: La perspectiva de las empresas.
Moderador: Gerardo Penas, Jefe del Área de Examen de Modelos, Diseños y Semiconductores de la OEPM.
- 13:00h Conclusiones.
María José de Concepción, Subdirectora del Departamento de Patentes e Información Tecnológica.
Organizan:
